检测需求为表面不能有划痕磕伤边缘磕碰

为了兼容多重类型缺陷，检测方式采用明场和暗场分两次曝光的检测方式，明场使用同轴光检测表面明显划伤磕碰等缺陷，低角度四面可调光做暗场检测较为轻微的边缘磕碰以及表面擦伤。

四面可调也可为后期检测难度更大缺陷分四次曝光，使用2.5D检测方式检测，检测类似轻微凹陷变形等缺陷